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  1. bechmark
    1. fio
      1. benchmark with fio
    2. CrystalDiskMark 4

bechmark

fio

benchmark with fio

  • 要件
  • physical block device
    • 1台～4台に対するI/O
      • 同時1台×4回 (sda, sdb, sdc, sdd)
      • 同時2台、3台、4台の時1台の何倍程度になるか
  • software RAID (mdadm)
    • raid0, raid1, raid5, raid6, raid10
  • LVM on physical device
    • linear lv (default)
    • raid0 lv
    • raid1 lv
    • raid5 lv
    • raid10 lv
    • thin lv
    • thin raid1 lv
    • thin raid5 lv
    • thin raid6 lv
    • thin raid10 lv
  • LVM on mdadm
    • mdadm側で各種RAID設定をする
    • linear lv
    • thin lv
  • TBD

CrystalDiskMark 4

  • diskspd fork時の引数
    1. -cサイズM でI/O用にテストファイルを作成。この時は「テストデータ」の選択によらず必ずrepeating pattern (0x0, 0x1, 0x2, ..., 0x255, 0x0, 0x1, ...)でfillされる
    2. 計測のため、作成したファイルにI/Oを行う
      • 書き込みテストの際、「テストデータ」で All 0x00 fill を選択すると、-Z4K, -Z128K, -Z1Mの代わりに-Zが指定される
      • TEST_SEQUENTIAL_READ_MULTI_QT
        • -b128K -d5 -oキュー数 -tスレッド数 -W0 -h -w0
      • TEST_SEQUENTIAL_WRITE_MULTI_QT
        • -b128K -d5 -oキュー数 -tスレッド数 -W0 -h -w100 -Z128K
      • TEST_RANDOM_READ_4K_MULTI_QT
        • -b4K -d5 -oキュー数 -tスレッド数 -W0 -r -h -w0
      • TEST_RANDOM_WRITE_4K_MULTI_QT
        • -b4K -d5 -oキュー数 -tスレッド数 -W0 -r -h -w100 -Z4K
      • TEST_SEQUENTIAL_READ
        • -b1M -d5 -o1 -t1 -W0 -h -w0
      • TEST_SEQUENTIAL_WRITE
        • -b1M -d5 -o1 -t1 -W0 -h -w100 -Z1M
      • TEST_RANDOM_READ_4K
        • -b4K -d5 -o1 -t1 -W0 -r -h -w0
      • TEST_RANDOM_WRITE_4K
        • -b4K -d5 -o1 -t1 -W0 -r -h -w100 -Z4K
    3. それぞれのテストを指定した回数だけ繰り返す